支援一覧

エネルギー変換マテリアル分野

• ナノサイズ金属・酸化物クラスターの試料提供（コアシェルクラスターやバイメタルクラスターが可能）
• オリジナルな装置によりナノサイズ特有の光学特性（PLスペクトル、PL寿命、3次非線形感受率）を評価
• ナノ材料の構造観察（高分解能透過電子顕微鏡）
• 磁性評価（振動試料型磁束計（VSM）、高周波薄膜透磁率計~3GHz）

さらに詳しく

ナノ構造磁性分野

• ナノスケールの微粒子、析出物、薄膜などの局所的な結晶構造や磁性や原子価を、メスバウアー分光法を通じて評価
• ⁵⁷Fe核、¹¹⁹Sn核を含む試料に対応可能
• 低温測定用クライオスタット、磁場中測定用マグネットなども装備
• 必要に応じて、メスバウアープローブ核を局所的に濃縮した薄膜試料の合成や、コンベンショナルな磁化測定も支援

さらに詳しく

ナノカーボン系エネルギー材料合成分野

• 任意の基板上へのCNF、金属ドープCNFの室温合成
• 上記をテンプレートとした針状ナノ構造高密度表面加工
• 独自のイオン照射技術に基づく室温CNF大量合成
• 任意基板上での成長は世界的にも3箇所のみ、国内では本支援のみ

さらに詳しく

生体分子合成分野

• 生物が有するシデロフォアの鉄捕捉機能を利用した微生物等の細胞の認識・識別・構造解析を行うナノ構造解析装置
• 電気化学アナライザー、水晶振動子、光学・デジタル・原子間力顕微鏡
• 細胞表面の鉄還元酵素と人工シデロフォアとの電気化学的応答観測する独創的細胞構造解析

さらに詳しく

表面・界面物性分野

• 無機物、有機物、金属材料の構成元素の電子状態（結合、価数）をＸ線光電子分光(XPS)法により評価
• 無機物、有機物の分子構造を飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS)法により評価
• XPS、TOF-SIMSともに Arモノマービーム（主に無機物、金属材料用）やArガスクラスターイオンビーム（GCIB；主に有機物用）による深さ方向の情報を取得可能
• 空間分解能や定量性など、それぞれの測定手法、材料で得手不得手があるため、XPSとTOF-SIMSを使い分けることで最適な情報を取得できるよう支援します

さらに詳しく