利用設備

利用設備

原子分解能分析電子顕微鏡群

NI-001原子分解能分析電子顕微鏡群

Atomic-Resolution Analytical Electron Microscope

特型走査電子顕微鏡装置

NI-002特型走査電子顕微鏡装置

Scanning Electron Microscope

白色共焦点顕微鏡

NI-003白色共焦点顕微鏡

White light confocal microscope

メスバウアー分光装置群

NI-004メスバウアー分光装置群

Mössbauer Spectrometer

X線光電子分光装置

NI-005X線光電子分光装置

X-ray Photoelectron Spectrometer

UV/VIS/NIR分光光度計

NI-006UV/VIS/NIR分光光度計

UV/VIS/NIR Spectrophotometer

単結晶X線構造解析装置群

NI-007単結晶X線構造解析装置群

Single Crystal X-ray Diffractometer

単結晶X線構造解析装置群

NI-008単結晶X線構造解析装置群

Single Crystal X-ray Diffractometer

電子スピン共鳴装置

NI-009電子スピン共鳴装置

Electron Spin Resonance Spectrometer

表面増強赤外分光装置

NI-010表面増強赤外分光装置

Surface-Enhanced Infrared Spectroscope

飛行時間型二次イオン質量分析装置

NI-011飛行時間型二次イオン質量分析装置

Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer

顕微蛍光X線分析装置

NI-012顕微蛍光X線分析装置

Micro Fluorescent X-ray Analyzer

高精度ガス/蒸気吸着量測定装置

NI-013高精度ガス/蒸気吸着量測定装置

Surface Area and Pore Size Distribution Analyzer

高周波透磁率測定装置

NI-014高周波透磁率測定装置

High Frequency Permeability Measurement System

振動試料型磁束計

NI-015振動試料型磁束計

Vibrating Sample Magnetometer

精密形状測定・局所磁気測定・局所電気特性評価装置

NI-017精密形状測定・局所磁気測定・局所電気特性評価装置

Scanning Probe Microscope for Morphological, Magnetic and Electrical Characterization

磁気特性測定装置

NI-018磁気特性測定装置

Magnetic Property Measurement System

走査電子顕微鏡

NI-019走査電子顕微鏡

Scanning Electron Microscope

プラズマ・ガス凝縮クラスター堆積装置

NI-101プラズマ・ガス凝縮クラスター堆積装置

Plasma-Gas-Condensation Cluster Deposition Apparatus

スパッタリング蒸着装置

NI-102スパッタリング蒸着装置

Sputtering Deposition Apparatus

真空蒸着装置群

NI-103真空蒸着装置群

Vacuum Deposition Equipment

中規模カーボンナノファイバー室温合成装置

NI-104中規模カーボンナノファイバー室温合成装置

Room-Temperature Carbon Nanofiber Growth System (for Medium Sized Samples)

特型表面ナノ構造形成装置

NI-105特型表面ナノ構造形成装置

Nanostructure Fabrication System

グラフェン・カーボンナノチューブ合成装置

NI-106グラフェン・カーボンナノチューブ合成装置

Chemical Vapor Deposition System for Graphene and Carbon Nanotubes Growth

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