表面・界面物性分野 支援概要 担当者 使用装置 支援概要 X線光電子分光装置(XPS)や飛行時間型2次イオン質量分析装置(TOF-SIMS)を用いた研究支援を実施します。 担当者 宮崎 秀俊(准教授) 研究室HP 研究者データベースシステム 宮川鈴衣奈(助教) 研究室HP 研究者データベースシステム 使用装置 X線光電子分光装置 飛行時間型2次イオン質量分析装置