支援概要

Ｘ線光電子分光装置（XPS）や飛行時間型2次イオン質量分析装置(TOF-SIMS)を用いた研究支援を実施します。

　

　

　

担当者

　

使用装置

• Ｘ線光電子分光装置
• 飛行時間型2次イオン質量分析装置